N-SIM E 超分辨率顯微鏡系統

分辨率媲美N-SIM的個人超分辨率顯微鏡

N-SIM E運用結構照明顯微鏡技術，實現了2倍于傳統光學顯微鏡的空間分辨率（約115nm）。作為一套精簡、經濟的超分辨率系統，N-SIM E支持常用的激發波長和基本的成像模式，是個人實驗室的理想選擇。

● 兩倍于傳統光學顯微鏡的高分辨率

N-SIM E 結合“結構照明顯微技術”，并搭配尼康的CFI超分辨率復消色差TIRF 100x油鏡（NA 1.49），將空間分辨率提升至傳統光學顯微鏡的近2倍（約115nm），可以觀察細胞內結構的微小細節以及它們之間的相互作用。

● 1幀/秒的時間分辨率，快速超分辨率成像

N-SIM E實現高速超分辨圖像獲取，時間分辨率約1秒/幀，支持活細胞高分辨成像。

● 3D-SIM模式提供Z軸超高分辨率成像

Slice 3D SIM模式用于300nmZ軸分辨率的光學斷層超分辨率成像。Stack 3D-SIM模式（選配）用于厚樣品的多層序列超分辨率成像，具有比Slice 3D-SIM模式更高的成像對比度。

尼羅紅標記的枯草芽孢桿菌細胞膜（紅色），和GFP標記的細胞分裂蛋白DivIVA（綠色）。超分辨率顯微鏡可以精確定位細胞分裂過程中的相關蛋白。

● 3激光多色超高分辨率成像

N-SIM E的緊湊型LU-N3-SIM 激光臺，預裝了常用的3個激光器（488/561/640），可進行多色超分辨率成像。用于研究細胞水平多個蛋白間相互作用以及動態過程。

? 結構照明顯微鏡原理  

通過對覆蓋已知高空間頻率圖案所產生的莫爾紋進行分析處理，可從數學上恢復標本的亞分辨結構。

使用高空間頻率的激光干涉照明標本，標本內的亞分辨結構產生莫爾條紋，這些莫爾條紋中包含標本經過調制的亞分辨率結構信息。捕獲莫爾條紋并通過影像技術進行處理，可復原未知的樣品信息，實現超越傳統光學顯微鏡極限的分辨率。

通過處理多個莫爾條紋影像創建超分辨率影像

在此處理過程中，捕獲道德莫爾條紋影像包含標本內微小結構的信息。顯微鏡對結構照明的多個相位和方向進行捕捉，并從莫爾條紋信息中提取出“超分辨率”信息。然后顯微鏡將此信息以數學方式組合到“傅立葉”或孔徑空間中，接著將其轉換回影像孔徑，從而產生分辨率兩倍于傳統顯微鏡的影像。

使用高頻條紋照明使分辨率翻倍

高分辨率、高空間頻率信息的捕捉收到物鏡數值孔徑（NA）的限制，且超過光學系統孔徑的結構孔徑頻率被去除。

通過高頻結構化照明技術提高樣本亮度，超越傳統的分辨率限制，令樣本中的未知結構清晰可見，在光學系統光圈內轉顯微鏡不為人知的“超分辨率”信息。

然后此“超分辨率”信息以數學形式與物鏡捕捉到的標準信息組合在一起，從而使得NA和光學系統的分辨率有效翻倍。

●超分辨率顯微鏡物鏡  

可配置100x或60x超分辨率物鏡，其中100x油鏡適用于固定標本的拍攝，而60x水鏡更適合活細胞長時間成像。

超分辨率物鏡針對尼康超分辨率顯微鏡設計研發，具有的光學表現。每顆物鏡均經過嚴格的檢查和挑選，具有低的光學相差，確保優異的光學性能。