EDX4500H X射線熒光光譜儀廠家
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 深圳市藝慈儀器有限公司
- 品牌 SanX/三翔
- 型號 EDX4500H
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2024/1/11 14:09:13
- 訪問次數 1575
產品標簽
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RoHS檢測儀，RoHS光譜分析儀，RoHS2.0檢測儀器，測厚儀，金屬合金元素分析儀，不銹鋼牌號檢測儀器，ROHS檢測儀器、rohs檢測儀、元素分析儀、x熒光光譜儀、液相色譜儀、分光光度計、X射線熒光光譜儀(XRF)、手持式便攜式礦石分析儀、古董鑒定儀、玩具安全檢測儀、鹵素ROHS檢測儀、電感耦合等離子體發射光譜儀、原子熒光光譜儀、氣相色譜儀、液相色譜等
| 產地類別 | 國產 | 價格區間 | 面議 |
|---|
X射線熒光光譜儀廠家技術參數
產品型號：EDX4500H
產品名稱：X射線熒光光譜儀
測量元素范圍：從鈉(Na)到鈾(U)
元素含量分析范圍：ppm—99.99%(不同元素，分析范圍不同)
同時分析元素：一次性可測幾十種元素
測量時間：30秒-200秒
輸入電壓：AC110V/220V
環境溫度：15℃-30℃
環境濕度：35%-70%
探測器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
測量對象狀態：粉末、固體、液體
樣品腔體積：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg
工作原理
利用低能量X射線照射測試樣品，試樣中的一些原子將發射具用自身特征X射線熒光，從而識別這些元素，同時無損檢測其含量。
X射線熒光光譜儀廠家技術優勢
4500HX射線熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實現對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。
新的數字多道技術，讓測試更快，計數率達到100000CPS，精度更高。在合金檢測中效果更好
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
該儀器的主要特征是利用智能真空系統，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發效果，利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關注的元素進行分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。的分析性能、極短的分析時間、極低的運行維護成本、智能化的操作模式，使樣品分析簡單易行。
應用領域
可以廣泛適用于銅合金、鋁合金、爐渣、燒結礦、鋅合金、鎳合金、鈦合金、鈷合金、不銹鋼等金屬樣品的成分分析。
4500HX射線熒光光譜儀是當今金屬分析的選擇，同時可以輕松面對未來分析的更高要求，不添加任何硬件設施，即可升級分析功能，方便靈活地隨生產發展的需要增加分析的元素及合金種類。
產品型號：EDX4500H
產品名稱：X射線熒光光譜儀
測量元素范圍：從鈉(Na)到鈾(U)
元素含量分析范圍：ppm—99.99%(不同元素，分析范圍不同)
同時分析元素：一次性可測幾十種元素
測量時間：30秒-200秒
輸入電壓：AC110V/220V
環境溫度：15℃-30℃
環境濕度：35%-70%
探測器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
測量對象狀態：粉末、固體、液體
樣品腔體積：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg
工作原理
利用低能量X射線照射測試樣品，試樣中的一些原子將發射具用自身特征X射線熒光，從而識別這些元素，同時無損檢測其含量。
X射線熒光光譜儀廠家技術優勢
4500HX射線熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實現對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。
新的數字多道技術，讓測試更快，計數率達到100000CPS，精度更高。在合金檢測中效果更好
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
該儀器的主要特征是利用智能真空系統，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發效果，利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關注的元素進行分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。的分析性能、極短的分析時間、極低的運行維護成本、智能化的操作模式，使樣品分析簡單易行。
應用領域
可以廣泛適用于銅合金、鋁合金、爐渣、燒結礦、鋅合金、鎳合金、鈦合金、鈷合金、不銹鋼等金屬樣品的成分分析。
4500HX射線熒光光譜儀是當今金屬分析的選擇，同時可以輕松面對未來分析的更高要求，不添加任何硬件設施，即可升級分析功能，方便靈活地隨生產發展的需要增加分析的元素及合金種類。
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