X射線熒光edx3600k分析儀?產品介紹

X射線熒光分析儀測量元素范圍：原子序數為9～92[氟（F）到鈾（U）]之間的元素均可測量
含量范圍：ppm～99.99%
檢測對象：標準粉未壓片及可以放入標準樣品杯的固體、液體及粉末
探測器及分辨率：超大超薄的SDD探測器，分辨率 為144±5eV,可選配極速探測器至125eV
激發源：銠靶或鎢靶光管根據客戶需求可供選擇
測井環境：超真空系統，10秒可抽到10Pa以下，大氣、氦氣均可以
準直器和濾光片：四組準直器（7、5、3、1mm），6種濾光片組合自動切換
自旋裝置：可調速的自旋裝置
檢出限：對樣品中的大多數元素來說，檢出限達5～500ppm
真空系統：超真空系統，10秒可到10Pa
測試臺：360°電動旋轉式
保護系統：樣品腔為電動控制，上蓋打開時測試已完成
樣品放置：*的樣品杯設計，自帶壓環，可防止樣品晃動
數字多道技術：計數率>50kcps，有效計數率高至500kcps
外形尺寸及重量：669mm×540mm×874mm，90KG

X射線熒光edx3600k分析儀?產品特點

1.超低能量分辨率，輕元素檢測效果更佳

2. 測試精度更高，檢出限更低
3. 分析速度更快，從第1秒即可得到定性定量結果
4. 一鍵式智能化操作
5. 強大的自動化功能
6. 強度校正法
7. 完善的光路系統
8. 三重安全防護功能
9. 安全警示系統