瓦楞紙板剝離強(qiáng)度試驗(yàn)架是測(cè)定瓦楞紙板粘合強(qiáng)度（PAT試驗(yàn)）時(shí)*的試驗(yàn)器具。試驗(yàn)架由下插針架（各楞型通用）、上插針架（A、B、C楞各1件）和上下插針組成，適用于GB/T 6544－2008規(guī)定的A、C、B各楞型瓦楞紙板的粘合強(qiáng)度試驗(yàn)，具有操作方便、無需調(diào)節(jié)、適用性強(qiáng)等特點(diǎn)，可廣泛適用于瓦楞紙板（箱）生產(chǎn)、科研和產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)等部門進(jìn)行瓦楞紙板單剝離試驗(yàn)。

I型膠合強(qiáng)度試驗(yàn)附件、剝離強(qiáng)度試驗(yàn)架規(guī)格參數(shù)：

1..型式：A，B，C
2.試樣：80×25mm / 50×150mm
3.體積-A：125×76×30mm
4.體積-B：91×76×30mm
5.體積-C：109×76×30mm
6.重量-A：500g
7.重量-B：350g
8.重量-C：400g
膠合強(qiáng)度試驗(yàn)附件標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)：GB/T6548，JIS-Z0402，CNS-3327

II型剝離強(qiáng)度試驗(yàn)架
瓦楞紙板剝離強(qiáng)度試驗(yàn)架是測(cè)定瓦楞紙板粘合強(qiáng)度（PAT試驗(yàn)）時(shí)*的試驗(yàn)器具。試驗(yàn)架由下插針架（各楞型通用）、上插針架（A、B、C楞各1件）和上下插針組成，適用于GB/T 6544－2008規(guī)定的A、C、B各楞型瓦楞紙板的粘合強(qiáng)度試驗(yàn)，具有操作方便、無需調(diào)節(jié)、適用性強(qiáng)等特點(diǎn)，可廣泛適用于瓦楞紙板（箱）生產(chǎn)、科研和產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)等部門進(jìn)行瓦楞紙板單剝離試驗(yàn)。
2　主要技術(shù)特性

2.1　插針直徑：φ3mm（A楞型）、φ2mm（B、C楞型）。

2.2　插針軸線對(duì)底面平行度誤差：組合后＜ ；

受力（300N）時(shí)＜ 。

2.3　zui大外形尺寸（長×寬×高，mm）：105×50×45。

3　操作使用步驟及注意事項(xiàng)

3.1　試樣制備

　　試樣應(yīng)按GB450《紙和紙板試樣的采取》規(guī)定采取并進(jìn)行預(yù)處理，切取的試樣尺寸為25mm×100mm，瓦楞方向與25mm尺寸的方向*。

3.2　操作使用步驟

3.2.1　根據(jù)試樣楞型，選擇合適的插針直徑和插針數(shù)。
     

楞型與插針規(guī)格
插針規(guī)格
A楞 型    
上 插　針: φ3 數(shù)　量:5          下　插　針: φ3 數(shù) 量:6
B楞 型
上 插　針: φ2 數(shù)　量:8         下　插　針: φ2 數(shù) 量:8
C楞 型
上 插　針: φ3或φ2 數(shù)　量:6     下　插　針: φ3或φ2 數(shù) 量:6
3.2.2　按下圖所示將上、下插針依順序插入試樣楞孔中。

N ── 下插針架支承反力   P ── 上插針架向下的壓力

1、下插針（長針） 2、上插針（短針） 3、瓦楞芯紙  4、面紙

3.2.3　將穿有試樣的插針?biāo)椒旁谙虏遽樇苌希虏遽橆^部臺(tái)階面靠攏下插針架外側(cè)面。

3.2.4  將上插針架開口向下放在已安裝好的下插針架對(duì)應(yīng)位置， 其中的一根上插針應(yīng)落入定位用的圓弧槽內(nèi)，將上插針頭部臺(tái)階面靠攏上插針架外側(cè)面。

3.2.5　將裝好試樣的試驗(yàn)架放在壓縮試驗(yàn)儀下壓板中部，其長邊應(yīng)對(duì)正操作者，即可進(jìn)行剝離試驗(yàn)。

3.2.6　從剝離開的試樣中取出插針，安裝新的試樣，進(jìn)行下一次試驗(yàn)。

3.3　使用注意事項(xiàng)

3.3.1  安裝試樣時(shí)，應(yīng)將試樣置于剝離架中間位置。

3.3.2　安裝中，應(yīng)檢查各插針是否*支撐在插針架的對(duì)應(yīng)位置上，不能有懸空或錯(cuò)位。

4　維護(hù)保養(yǎng)

4.1　使用試驗(yàn)架時(shí)，應(yīng)避免插針變形，如插針有彎曲變形或其他損壞，則不能再用，應(yīng)予更換或校直。

4.2　試驗(yàn)完畢后應(yīng)將試驗(yàn)架按規(guī)格分別放入盒中，以免造成損傷。