美國麥奇克Microtrac噴霧粒度分析儀

產品范圍：

美國麥奇克Microtrac激光粒度分析儀、麥奇克Microtrac電位分析儀、麥奇克Microtrac、麥奇克Microtrac噴霧粒度分析儀、麥奇克Microtrac動態顆粒圖像分析儀

美國麥奇克Microtrac噴霧粒度分析儀品牌介紹:

美國麥奇克有限公司（Microtrac Inc.）是世界上非常有名的激光應用技術研究和制造廠商，其良好的激光粒度分析儀已廣泛應用于水泥，磨料，冶金，制藥，石油，石化，陶瓷，軍工等領域，并成為眾多行業的質量檢測和控制的分析儀器。Microtrac Inc.公司非常注重技術創新，近半個世紀以來，一直著激光粒度分析的前沿技術，可靠的產品和強大的應用支持及完善的售后服務，使得其不斷超越自我，推陳出新，。麥奇克Microtrac以其在激光衍射/散射技術和顆粒表征方面的獨到見解，經過多年的市場調研和潛心研究，開發出一代Zetatrac微電場分析技術，融納米顆粒粒度分布與Zeta電位測量于一體，無需傳統的比色皿，一次進樣即可得到準確的粒度分布和Zeta電位分析數據。與傳統的Zeta電位分析技術相比，Zetatrac采用良好的“Y”型光纖探針光路設計，配置膜電極產生微電場，操作簡單，測量迅速，無需精確定位由于電泳和電滲等效應導致的靜止層，無需外加大功率電場，無需更換分別用于測量粒度和Zeta電位的樣品池，*消除由于空間位阻（不同光學元器件間的傳輸損失，比色皿器壁的折射和污染，比色皿位置的差異，分散介質的影響，顆粒間多重散射等）帶來的光學信號的損失，結果準確可靠，重現性好。

技術數據：

Microtrac S3500激光粒度分析儀系列產品：

藍波2型(BWDL)):濕法測量范圍：0.01-2,800μm；干法測量范圍：0.25-2,800μm藍波1型(BWSL)):濕法測量范圍：0.01-2,000μm；干法測量范圍：0.25-2,000μm

增強型(Enhanced):濕法測量范圍：0.02-2,800μm；干法測量范圍：0.25-2,800μm

擴展型(eXtended):濕法測量范圍：0.02-2,000μm；干法測量范圍：0.25-2,000μm

特殊型(speciaL) : 濕法測量范圍：0.09-1,500μm；干法測量范圍：0.25-1,500μm

標準型(Standard):濕法測量范圍：0.25-1,500μm；干法測量范圍：0.25-1,500μm

型(High): 濕法測量范圍：2.75-2,800μm；干法測量范圍：2.75-2,800μm

基本型(Basic) : 濕法測量范圍：0.70-1,000μm；干法測量范圍：0.70-1,000μm

Microtrac噴霧粒度分析儀技術參數：

測量范圍：0.5um一2,000um

測量方法：靜態激光衍射分析技術，全量程米氏理論處理

系統自動對焦，實時檢測，分析時間短

自動觸發，可實現脈沖噴霧測量

數據處理靈活方便，兼容Windows系列版本

可選型號：SPR3500A（標準型）,SPR1500A（大角度）

可選附件干法噴霧器（PD--10S)，濕法分散器（SC一13),運動底座(MB-600）

Microtrac動態顆粒圖像分析儀技術參數：

多于30種的形態參數

干法的測量范圍：4μm --4,500μm

采用壓縮空氣分散精細粉末

相機速度：至少100幅/秒，高分辨率相機

堅固而緊湊的外觀設計

封閉式的光學系統，減少停機維護

測試方法：動態顆粒圖像實時分析

樣品用量：0.5-50g

測量時間：1-5分鐘的雙光路一體化設計

用戶可自行定義被測樣品的上下限粒度閾值，進行趨勢分析，統計被測顆粒的數量，及時反饋調準