軟件產品：ZEMAX光學設計軟件以及GB Drawing中文國標出圖軟件，ASLD固體激光器設計軟件，TFCalc薄膜設計軟件，PhotonDesign光波導設計軟件，Prosource、Radiant Source照明及光源設計分析軟件，CYME電力工程軟件；硬件產品：NIT非制冷中波紅外探測器，LED檢查儀，MTF成像質量檢測儀，各種紅外鏡頭及擴束鏡頭，Laser Component的雪崩光電二極管(APD)與脈沖激光二極管(PLD)，溫度控制器與激光二極管驅動器，視覺鏡頭，紅外機芯等。
| 產地類別 | 進口 |
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白俄羅斯EssentOptics公司基于*性設計的分光光度計和單色儀來開發和生產光學儀器設備。PHOTON RT 紫外可見中波紅外分光光度計可以滿足目前以及未來的光學工業用戶的需求。
該光度計可以實現對光學鍍膜樣品進行無人值守測量的儀器。其測量波長范圍185nm到5200nm，可以在寬角度和寬波長范圍測量反射率、透過率和偏振態。
紫外可見中波紅外分光光度計優勢：
擁有比市場上同類儀器超過10倍的測量速度；
改變測量入射角度時不需重新校準基準；
在基片的同一區域可以測量透過濾和反射率——*用于薄膜設計的逆推分析；
*的自動化過程將測量過程中的人為錯誤*地zui小化；
單一儀器中可設置、記錄寬波長范圍： 190-4900 nm和 380-5200 nm；
特點和測量能力 (不需額外附加裝置):
可設置波長范圍：190-4900 nm 和 380-5200 nm
內置寬譜帶高對比偏光鏡，覆蓋 波長范圍220-5200 nm
*的偏光鏡設置： S， P， S+P+(S+P)/2， 隨機和用戶自定義S：P
鏡面反射測量(R, Rs, Rp)@ 8-75deg AOI
透射比測量 (T, Ts, Tp)@ 0-75 deg AOI
無人值守測量和隨機T(s+p)/2和 R(s+p)/2偏振計算
無反射基片的吸收比測量
內建光束位移補償對厚樣品的任意角度下的透射比測量
對單個或多個樣品的無人值守批量測量
對單層均勻膜層的復折射率和膜層厚度的測定
在用戶選擇波長范圍內對R和T值的平均化
依據A型照明光源和人眼光譜敏感性對R和T值進行積分調整
樣品的光密度測量，0 – 4 (D)
展示圖： 
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