光學結構 

反射 : d/8;SCI （ 鏡面光包含 ）/SCE （ 鏡面光不包含 ） 可切換 ; 

d/8 光學結構符合 ISO 和 DIN 標準 ; 

d/0 之光學結構也符合 CIE 和 ASTM 標準 穿透 : d/0. 

偵測器 

硅光電二極管（ 40 對組件） 

測量波長范圍 

360 到 740nm 每間隔 10nm 

精確度 

反射率從 0 到 200% Resolution: 0.01%    

光源 

脈沖氙弧燈（× 4 ）  

測量時間 

大約 1.5 秒 . 

測量間隔時間 

4 秒，當測量 SCI/SCE 時 

UV 光調整 / 過濾 

瞬時數字化UV調整和 400nm&420nm 截斷 

穿透測量之樣品 

薄片 , 色板 , 或 液體 （ 裝在容器中 ） zui大厚度不超過 50mm 

再現性 

光譜反射率 : 標準偏差 ≦ 0.1% 

色差值 : 標準偏差Δ E*ab ≦ 0.02 

（ 測量條件 : 執行校正后測量校正白板 , 測 30 次每次間隔 10 秒 ） 

機臺交換性 （LAV） 

平均Δ E*ab 0.15 基于 12 BCRA Series Ⅱ 色板測量值與標準機臺比較 . 

溫度影響 

光譜反射率 : ≦± 0.10%/ ℃ 色差值 : Δ E*ab≦ 0.05/ ℃ 

通訊接口 

RS-232C 

電源 

AC 120V/230V 50/60Hz 

操作溫度 / 濕度范圍 

13 to 33 ℃ ; 低于 80% 相對濕度 （at 33 ℃ 無冷凝 ） 

儲存溫度 / 濕度范圍 

0 to 40 ℃ ; 低于 80% 相對濕度 （at 33 ℃ 無冷凝 ） 

體積 （W × H × D） 

244 × 208 × 378mm （ 9-5/8 × 8-3/16 × 14-7/8inch. ） 

重量 

12kg （26-7/16 lb.） 

標準配置 

校正白板 CM-A103; 目標罩 （ ψ 4mm）CM-A107; 目標罩 （ ψ 8mm）CM-A106 ；目標罩 （ ψ 25.4mm） CM-A105; 零點校正盒 CM-A104; 附件盒 CM-A109; 變壓器 AC-A12; RS-232C 通訊線 CM-A52 

防塵罩； Unit Driver 軟盤