MarSurf PS1表面粗糙度儀長(zhǎng)期現(xiàn)貨供應(yīng)

MarSurf PS1表面粗糙度儀，適用于符合標(biāo)準(zhǔn)要求的表面粗糙度測(cè)量范圍，重量輕且便攜式測(cè)量解決方案。它不僅測(cè)量峰到谷的高度，還可以給出樣品區(qū)域遇到的峰的頻率。 Elcometer還提供各種手寫(xiě)筆拾音器和配件，以滿足您的所有檢查需求。

MarSurf PS1是符合標(biāo)準(zhǔn)要求表面粗糙度測(cè)量范圍的輕便便攜式測(cè)量解決方案。 該單元還適用于在廣泛的一般工業(yè)應(yīng)用中評(píng)估表面粗糙度條件; 特別是樣品太大而無(wú)法帶到實(shí)驗(yàn)室。 表面粗糙度的測(cè)量用Ra，Rz或Rt表示。 這些值包括峰 - 谷分布測(cè)量結(jié)合對(duì)樣本區(qū)域內(nèi)峰值頻率的評(píng)估。 

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篤摯儀器（上海）有限公司是德國(guó)馬爾mahr(中國(guó)區(qū))供應(yīng)中心(即德國(guó)馬爾粗糙度儀經(jīng)銷(xiāo)商，)，是中國(guó)的光學(xué)儀器、無(wú)損檢測(cè)、色譜與光譜耗材專(zhuān)業(yè)供應(yīng)商，常年提供*的德國(guó)馬爾粗糙度儀mahr，客戶(hù)遍及。作為mahr馬爾粗糙度儀代理商我們備有大量的現(xiàn)貨和具有競(jìng)爭(zhēng)力的價(jià)格。

MarSurf PS1表面粗糙度測(cè)試儀由一個(gè)手寫(xiě)筆組成，該筆筆在表面上機(jī)械地繪制，在預(yù)定義的樣本長(zhǎng)度上記錄表面粗糙度的“圖像”。測(cè)量技術(shù)提供了許多測(cè)量參數(shù)，包括：
 
Rmax：采樣長(zhǎng)度之間zui高峰和zui低谷之間的zui大距離。
Ra：采樣長(zhǎng)度上的平均表面粗糙度。

Rt：任何給定采樣長(zhǎng)度內(nèi)zui高峰和zui低谷之間的距離。

Rz：多個(gè)采樣長(zhǎng)度之間zui高峰和zui低谷之間的平均距離。

一般規(guī)格：

測(cè)量單位：公制，英寸

測(cè)量原理：觸筆方法

觸控筆提供（其他觸控筆可選）：感應(yīng)式滑蓋式觸筆拾取，2μm（80μin）觸針筆尖，測(cè)量力約。 0.7 mN

參數(shù)：24（公差極限）：Ra，Rq，Rz等于至R y（JIS），Rz（JIS），Rmax，Rp，Rp（ASME），Rpm（ASME），Rpk，Rk，Rvk，Mr1，Mr2，A1，A2，Vo，Rt，R3z，RPc，Rmr equiv。至Tp（JIS，ASME），RSm，R，Ar，Rx

測(cè)量范圍：350μm，180μm，90μm（自動(dòng)變化）

配置文件分辨率：32nm，16nm，8nm（自動(dòng)更改）

過(guò)濾器：根據(jù)DIN EN ISO 11562的相位校正型材過(guò)濾器（高斯過(guò)濾器），符合DIN EN ISO 13565-1的特殊過(guò)濾器，符合DIN EN ISO 3274標(biāo)準(zhǔn)的過(guò)濾器（可禁用）

截止：0.25mm，0.8mm，2.5mm;自動(dòng)（0.010“，0.030”，0.100“）

行程長(zhǎng)度：1.75mm，5.6mm，17.5mm;自動(dòng)（0.069“，0.22”，0.69“）

移動(dòng)長(zhǎng)度（根據(jù)MOTIF）：1mm，2mm，4mm，8mm，12mm，16mm（0.040“，0.080”，0.160“，0.320”，0.480“，0.640”）

短截止值：可選擇

評(píng)價(jià)長(zhǎng)度：1.25mm，4.0mm，12.50mm（0.050“，0.15”，0.50“）

采樣長(zhǎng)度的數(shù)字n：可選：1到5

校準(zhǔn)功能：動(dòng)態(tài)

內(nèi)存容量：zui大15個(gè)配置文件，zui多20,000結(jié)果

其他功能：阻止設(shè)置（代碼保護(hù)），日期/時(shí)間

電池：鋰離子電池

接口：USB，Mar Connect（RS232）

尺寸：140mm×50mm×70mm（5.51“×1.97”×2.76“）

可以按照以下使用：
ASTM D7127，ASME B46，DIN 4768，EN 10049，ISO 4287，ISO 4287/1，JIS B 0601