測試檢測分析測定測量化驗(yàn)礦石成份儀器設(shè)備

      對于礦產(chǎn)勘探開采行業(yè)來說，礦業(yè)公司進(jìn)行決策時(shí)很多時(shí)候要依賴于已有的礦體模型、公司經(jīng)驗(yàn)與技術(shù)。但要充分挖掘礦山價(jià)值、制定好的開采決策，這些是遠(yuǎn)遠(yuǎn)不夠的。

　　對礦山價(jià)值的利用，有一個(gè)關(guān)鍵前提：即需要即時(shí)獲取可靠的地球化學(xué)數(shù)據(jù)，以快速描繪出礦體邊界。此外，的礦山圖繪制及礦石品位控制也需要對礦樣的元素含量作定量分析。

　　將礦樣送至遠(yuǎn)離現(xiàn)場的實(shí)驗(yàn)室檢測，不但費(fèi)時(shí)費(fèi)力、成本昂貴，對于偏遠(yuǎn)的地方，這樣做也是不切實(shí)際的。現(xiàn)在，有了手持式礦石分析儀，您的礦物元素分析工作就可以變得格外簡單。對于礦業(yè)公司來說，可以為您提供一款既節(jié)省成本又非常快速的現(xiàn)場XRF分析儀器，它重量輕、精度，性能可靠，可廣泛應(yīng)用于勘探開采過程中各階段的礦樣成分分析。

　　作為手持式X射線熒光（XRF）分析儀器制造行業(yè)的者，一直被業(yè)界作為工業(yè)現(xiàn)場合金、礦物、土壤、考古、RoHS、消費(fèi)品等領(lǐng)域的材料分析標(biāo)準(zhǔn)。技術(shù)優(yōu)勢

◆　人性化的設(shè)計(jì)

　    采用1mm光路準(zhǔn)直系統(tǒng)針對焊點(diǎn)，焊縫等小測試區(qū)域進(jìn)行針對性測試

◆　精度，分析范圍廣

　　檢測精度接近實(shí)驗(yàn)室級的分析水平，可分析極低含量(ppm級)至百分比含量(%)

◆　優(yōu)化應(yīng)用

性能X射線探測器選項(xiàng)，可為礦產(chǎn)勘探、開采等不同過程中的分析應(yīng)用，提供專業(yè)的、具有針對性的解決方案

可分析元素(標(biāo)準(zhǔn)配置)
XL1礦石分析儀
S, K, Ca, , V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Rb, Sr, Zr, Nb, Mo, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb, , Hf, Ta, Re, W, Au, Hg, Pb, Bi, Sc

XL2  礦石分析儀
S, K, Ca, , V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Rb, Sr, Zr, Nb, Mo, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb, , Hf, Ta, Re, W, Au, Hg, Pb, Bi, Mg, Al, Si, Cl

測試檢測分析測定測量化驗(yàn)礦石成份儀器設(shè)備