Leica EM TXP全新精研一體機(jī)

LEICA EM TXP

是一款*的可對(duì)目標(biāo)區(qū)域進(jìn)行精確定位的表面處理工具，特別適合于SEM，TEM及LM觀察之前對(duì)樣品進(jìn)行切割、拋光等系列處理。它尤其適合于制備高難度樣品，如需要對(duì)目標(biāo)精細(xì)定位或需對(duì)肉眼難以觀察的微小目標(biāo)進(jìn)行定點(diǎn)處理。有了 Leica EM TXP，這些工作就可輕松完成。

在 Leica EM TXP全新精研一體機(jī)之前，針對(duì)目標(biāo)區(qū)域進(jìn)行定點(diǎn)切割，研磨或拋光等通常是一項(xiàng)耗時(shí)耗力，很困難的工作，因?yàn)槟繕?biāo)區(qū)域極易丟失或者由于目標(biāo)尺寸太小難以處理。使用 LeicaEM TXP ，此類樣品都可被輕易處理完成。另外，借助其多功能的特點(diǎn)，也是一款可為離子束研磨技術(shù)和超薄切片技術(shù)服務(wù)的*效的前制樣工具。

與觀察體系合為一體

在顯微鏡下觀察整個(gè)樣品處理過(guò)程和目標(biāo)區(qū)域

    將樣品固定在樣品懸臂上，在樣品處理過(guò)程中，通過(guò)立體顯微鏡可對(duì)樣品進(jìn)行實(shí)時(shí)觀察，觀察角度0°至60°可調(diào)，或者調(diào)至 -30°，則可通過(guò)目鏡標(biāo)尺進(jìn)行距離測(cè)量。還帶有明亮的環(huán)形LED光源照明，以便獲得*視覺(jué)觀察效果。

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