頻率范圍：300kHz 至 1.3GHz，可滿足多種射頻元件在該頻段內(nèi)的特性測試。

測量功能：內(nèi)置傳輸 / 反射測試裝置，具備全范圍幅度和相位測量能力。可測量 S 參數(shù)、插入損耗、增益、回波損耗、駐波比（SWR）、延遲、復(fù)數(shù)阻抗等參數(shù)，還能進(jìn)行 S 參數(shù)分析和阻抗測量。

性能指標(biāo)：系統(tǒng)動態(tài)范圍達(dá) 100dB，可在大信號動態(tài)范圍內(nèi)準(zhǔn)確測量。合成信號源具有 1Hz 分辨率，能提供穩(wěn)定且高分辨率的激勵信號。實(shí)時掃描速度快，僅 40ms / 次掃描，可快速完成測量，提高測試效率。

接收機(jī)檢測：具備窄帶和寬帶兩種檢測方式，寬帶檢測用于表征頻率轉(zhuǎn)換器件，窄帶檢測可為測試高抑制窄帶器件提供高動態(tài)范圍。

數(shù)據(jù)存儲與接口：標(biāo)準(zhǔn) LAN 接口方便連接外部設(shè)備，實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)傳輸和共享以及自動化測量系統(tǒng)的構(gòu)建。還支持標(biāo)準(zhǔn) Agilent Instrument BASIC（IBASIC），便于用戶編寫程序，實(shí)現(xiàn)測量過程的自動化和定制化。

顯示與操作：兩個獨(dú)立的測量通道可同時測量和顯示兩個器件參數(shù)，如傳輸和反射響應(yīng)，能以多種格式顯示，包括直角坐標(biāo)、極坐標(biāo)或史密斯圓圖上的復(fù)數(shù)阻抗、SWR 和延遲等。儀器采用矢量誤差校正技術(shù)，可增強(qiáng)測量精度。

物理特性：結(jié)構(gòu)緊湊，集成化程度高，尺寸約為 16×14×10 英寸，重量 25 lbs，便于攜帶和在不同場所使用，對于制造、進(jìn)貨檢驗(yàn)和維護(hù)等場景均十分理想。