SONOSCAN D9500 C-SAM 超聲波電子顯微鏡

原理 ：
利用不同材料對超聲波聲阻抗不同，對聲波的吸收和反射程度不同，來探測半導體、元器件的結構、缺陷、對材料做定性分析。

 
 
應用:

D9500以其的精度和穩健性成為了現代微聲學成像的標準，是失效分析，工藝開發，材料分析與表征和小批量生產的*選擇。D9500采用同時傳輸和反射模式，并且應用更新更符合人體工程學設計。

主要特征：

.慣性平穩掃描裝置能減少振動，確保*的掃描結果
.擁有多種頻率的探頭,能夠細致清晰掃描物體內部；
.非破壞性，對粘接層面敏感；
.能穿透大多數材料

.新的，更大的掃描范圍，有多個托盤可以容納大樣本

.多語言操作系統，使用者可以選擇母語：中文，英語和日語。

.溫度控制選擇：無論周圍環境中空氣溫度變化，會確保一天中水的溫度保持不變

B型掃描定量分析模式（Q-BAM）：Sonoscan*的B型掃描模式，為用戶提供一個極準確且包含深層數據的虛擬橫截面。