DM 1230型X熒光鋁硅分析儀

主要用于測(cè)量生料、熟料和水泥等物料中Al2O3、SiO2的含量。與傳統(tǒng)的鋁硅分析方法不同，它采用能量色散X射線熒光（EDXRF）分析方法，具有分析速度快、精度高、人為誤差小、操作工勞動(dòng)強(qiáng)度低、無(wú)污染等特點(diǎn)，且只需一次性投資，不需要任何化學(xué)試劑。目前國(guó)內(nèi)大多數(shù)水泥企業(yè)已使用X熒光鈣鐵分析儀來(lái)測(cè)量生料等物料中CaO、Fe2O3的含量，但Al2O3、SiO2含量的測(cè)量卻很少是用X熒光分析儀的，而Al2O3、SiO2含量的即時(shí)準(zhǔn)確得到與CaO、Fe2O3對(duì)水泥生產(chǎn)的質(zhì)量控制同樣重要，只有同時(shí)即時(shí)準(zhǔn)確得到這四個(gè)氧化物的含量才能真正實(shí)現(xiàn)生料的率值控制。

2014款DM 1230型X熒光鋁硅分析儀除保持了原有DM系列X熒光分析儀所具有的外形美觀、一體化、不含同位素放射源，連續(xù)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)樣法、數(shù)據(jù)儲(chǔ)存能力大等優(yōu)點(diǎn)外，進(jìn)行了以下重大改進(jìn)：

    (1) 大屏幕彩色觸摸式液晶屏代替原黑白液晶屏和鍵盤(pán)，改善了用戶的操控體驗(yàn)。

    (2) 新的大規(guī)模集成電路CPU代替原老的如80C31等CPU，沒(méi)有數(shù)據(jù)總線與外部設(shè)備或外部芯片直接連接，*地提高了系統(tǒng)的可靠性，基本消滅了死機(jī)現(xiàn)象。

    (3) 用貼片電路代替原立式電路，減少了電路板的面積，并能大規(guī)模機(jī)械化生產(chǎn)，*地提高了硬件的可靠性，使儀器的返修率降到zui底。

    (4) 用熱敏打印機(jī)代替了原來(lái)的針打印機(jī)。

(5) 用設(shè)計(jì)的采用CPLD，F(xiàn)PGA，DSP等技術(shù)的多道脈沖幅度分析器及可變?cè)鲆娣糯笃鞔嬖瓎蔚烂}沖幅度分析器及固定增益放大器，*地提高了儀器的*穩(wěn)定性。

主要技術(shù)指標(biāo)

    1.分析范圍：Al2O3、SiO2分析范圍均可調(diào)節(jié)，通過(guò)標(biāo)定工作曲線的方法選定。

    2.分析范圍寬度：Al2O3max—Al2O3min≤5%，SiO2max—SiO2min≤7%。

    3.線性誤差：Al2O3：±0.14%，SiO2：±0.14%。

    4.系統(tǒng)分析時(shí)間：100秒、200秒、300秒，可選。

    5.分析精度：SAl2O3≤0.07%，SSiO2≤0.07%。

    6.溫度穩(wěn)定性：在5~+40℃范圍內(nèi)，漂移：∣△Al2O3∣≤0.07%,∣△SiO2∣≤0.07%。

    7.使用條件：環(huán)境溫度：5~+40℃，相對(duì)濕度：≤85%(30℃)，供電電源：220V±20V，50Hz。

    8.整機(jī)功耗：≤50W。

    9.尺寸及重量：470mm×365mm×130mm，15kg。