[技術參數]
     探測器：      進口半導體探測器，分辨率達139eV
     X光管：       鎢（W）靶，zui大電壓50kV，zui大電流1mA
                           使用壽命長達5萬小時
     高壓電源：  精密X射線電源，zui高輸出電壓50kV
                           穩定度每8小時小于0.05%
     濾光片：      6組濾光片電動切換，有效降低背景干擾
     準直器：      直徑8mm、5mm、2mm、1mm、0.5mm、0.2mm電動切換
                           免去人工操作煩惱
     對焦系統：  旋鈕視覺對焦
     樣品腔：     大氣
     樣品觀察： 高清晰彩色CCD射線頭
     X射線防護： 三重X射線防護（樣品腔、機殼、程序控制），
                          低于GB16355-1996防輻射標準
     輸入電壓：  AC 220V/50HZ
    功耗：           260W
    樣品腔尺寸： 660×400×135mm
    外型尺寸：  680×460×475mm
    重量：         40Kg

[性能指標]
    可測元素：         硫（S）－鈾（U）
    可測鍍層：         zui多5層金屬鍍層、金屬基體上單層無機薄膜
    鍍層種類：         單金屬、合金、無機薄膜
    精度：                 zui高可達0.02um
    厚度相對誤差： 單層8%，多層15%
    厚度范圍：         輕金屬（如：Ti、Cr等）0.01～50um
                                 中金屬（如：Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等）0.01～30um
                                 重金屬（如：Pt、Au、Pb等）0.01～10um
    zui小測量直徑： 2mm
    分析時間：         60～300S

[功能特點]
    采用進口的型探測器，對超低含量的元素都能探測；
    自動安全的高壓防護電路設計；
     *的光路系統，增大X射線強度，減少散射背景；
    緊密封閉的腔體設計、電路控制、機械控制三重X射線防護；
    靈活精準的分析軟件，既可進行簡單、快速的物質測試，滿足工業化生產需求，也
    可通過科學的參數配置滿足復雜、高精度的元素分析；
    采用了、復雜的X熒光分析算法，比任何同類軟件都要適應各種復雜、多
    樣的物質分析，解決了傳統X熒光分析必須依賴相同基體標樣局限；
    對分析樣品的狀態、形狀、大小自動進行校正，減少因制樣不足而帶來的誤差。