X熒光光譜儀EDX9000P性能優(yōu)勢

快—1秒鐘出結果
采用行業(yè)的極速探測器技術——（X-SDD）分辨率zui低至125eV
優(yōu)勢：探測面積大（面積達25mm2）、單位時間內(nèi)接受信息多、計數(shù)率高分辨率好，探測效率更高，探測信噪比更強，X熒光光譜儀EDX9000P檢出限更低
采用行業(yè)的數(shù)字多道技術 
優(yōu)勢：有效提高輸出效率，實現(xiàn)超高計數(shù)率，保證采集有效計數(shù)率zui高可達1000Wcps
采用大功率X光管及*的準直濾光系統(tǒng) 
優(yōu)勢：激發(fā)效率更高
X熒光光譜儀EDX9000P光閘系統(tǒng) 
優(yōu)勢：樣品更換無需關閉高壓，提高測試效率與測試精度
精密的定位系統(tǒng) 
超高清晰工業(yè)攝像頭，更清晰的顯示測試點 
多點測試 
2D全自動移動樣品臺——可實現(xiàn)圖像聯(lián)動控制，多點連續(xù)測試 
超小樣品檢測——zui小可測到0.2毫米 
8種準直器、4種濾光片快速切換功能，可根據(jù)不同樣品進行選擇
準直器zui小可達0.2毫米，針對超小樣品可準確聚焦檢測
X熒光光譜儀EDX9000P人性化的設計 
更安全：X射線聯(lián)動安全裝置——光閘與聯(lián)動裝置互動；儀器外殼與高壓使能端相聯(lián)動
更快捷：多點測試，點哪測哪
預約預熱：根據(jù)設定時間，儀器可定時開始測試
預約開機預熱功能：客戶可預約儀器開機時間，同時可以儀器預熱并自動檢測、校正儀器狀態(tài)；同時可以實現(xiàn)預約關機，關機前可設定聲光提示

X熒光光譜儀EDX9000P技術參數(shù)

X熒光光譜儀EDX9000P測量元素范圍：硫（S）～鈾（U）
測量時間：1s或以上
檢出限：分析檢出限可達2ppm，zui薄可測試0.005μm
含量范圍：2ppm～99.9%
穩(wěn)定性：0.02%
管壓：5～50KV
管流：≤1000uA
X熒光光譜儀EDX9000P探測器：X-SDD探測器，分辨率可達125eV
準直器：8種準直器自動切換
濾光片：4種濾光片自由切換
樣品觀察：高清工業(yè)攝像頭
環(huán)境濕度：≤70%
環(huán)境溫度：15℃～30℃
電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）