產品特點

更小巧，更便攜

AFM微納機電芯片，使得Redux/nGauge原子力顯微鏡（AFM）系統僅有公文包大小，可隨身攜帶。

更簡單，更易用

只需點擊鼠標三次即可獲得樣品表面納米級形貌信息，無需配置減震平臺。

第一步：通過內置光學顯微鏡尋找掃描區域；

第二步：Redux/nGauge幫助掃描探針自動尋找樣品表面；

第三步：點擊掃描，獲取樣品表面形貌信息。

維護簡單，性價比高

類金剛石針尖保證AFM探針超長壽命，且無需繁瑣的更換針尖操作和其他后期維護工作。

Redux采用的壓電AFM探針技術以及耐用的探針針尖（左圖）。中圖為一根探針第215次掃描樣品的結果，右圖為第1164次掃描樣品的結果

設備參數：

Redux AFM

左：Redux原子力顯微鏡（AFM）；右：Redux原子力顯微鏡實際使用場景

Redux微型原子力顯微鏡n5（噪聲基底優于0.5nm）

Redux微型原子力顯微鏡n7（噪聲基底優于0.15nm）

產品特點

快速：1分鐘內便可獲取樣品信息

易用：掃描只需點擊三次鼠標

簡單：全新升級的X, Y和Z定位系統

技術參數

nGauge AFM

成像類型：形貌圖，相位圖

XY 掃描區域：100 µm × 100 µm

XY 掃描分辨率：<0.5 nm

Z向掃描范圍：10 µm

快速掃描成像時間：16 秒

可表征樣品大尺寸：100 mm x 50 mm x 20 mm

可表征樣品大重量：1 kg

各表征手段對比

測試數據

微柱陣列三維成像

二氧化硅聚合物復合材料相掃描結果

半間距為200nm的光柵形貌表征

數據存儲單元納米結構三維形貌表征

丹麥Akasel公司檢測鋼鐵拋光樣品表面

美國Biotech公司表征皮膚樣本

美國Applied Nanotool公司微納光學器件品控

光電子域器件檢測

發表文章

1. Zhao, P., et al., Multiple antibiotics distribution in drinking water and their co-adsorption behaviors by different size fractions of natural particles. Science of The Total Environment, 2021. 775: p. 145846.

2. Guo, P., et al., Vanadium dioxide phase change thin films produced by thermal oxidation of metallic vanadium. Thin Solid Films, 2020. 707: p. 138117.

3. Connolly, L.G., et al., A tip-based metrology framework for real-time process feedback of roll-to-roll fabricated nanopatterned structures. Precision Engineering, 2019. 57: p. 137-148.

4. O'Neill, C., et al., Effect of tooth brushing on gloss retention and surface roughness of five bulk‐fill resin composites. Journal of Esthetic and Restorative Dentistry, 2018. 30(1): p. 59-69.

用戶單位

nGauge全球代表性用戶