一、產品用途：
（1） 金屬、半導體、導電高分子薄膜（塊體）電阻率的測量；
（2） 金屬薄膜材料電阻率的測量（zui大厚度0.2毫米）；金屬塊體材料電阻率的測量（zui大厚度6毫米）
二、儀器組成：
1、 四探針組件
由具有引線的四根探針組成。
2、 SB118精密直流電流源
輸出電流10-6~0.2安培范圍內可調。
3、 直流數字電壓表
直流數字電壓表是具有6位半字長、0.1為微伏電壓分辨率的帶單片微機處理技術的高精度電子測量儀器。
三技術參數：

由于金屬塊體材料的電阻和金屬薄膜的電阻很低，它們的測量采用四端接線法。為了滿足實際的需要，本儀器采用四探針法原理來實現對不同金屬、半導體、導電高分子材料的電阻率的測量。本產品的電阻測量范圍可達10-6—106Ω。
（使用環境5—40℃，相對濕度<80%，供電220V  50Hz，為實驗室環境使用）
由直流電壓電流源、直流數字電壓表、四探針樣品測試平臺三部分組成。
直流電壓電流源：
是一臺4?位的電壓源及電流源，既可輸出5μV—50V，5檔可調電壓，基本誤差為±（0.1%RD+0.02%FS）又可輸出1nA—100mA，5檔可調電流，基本誤差為±（0.03%RD+0.02%FS）。
直流數字電壓表：具有6?位字長，0.1μV電壓分辨力的帶單片危機處理技術的高精度電子測量儀器，可測量0-1000V直流電壓。基本量程的基本誤差為±（0.002%RD+0.0005%FS），詳見本公司產品PZ158A。
四探針樣品測試平臺：該測試平臺是SB120/1測試平臺的改進型。其有底座、支架、旋動部件、樣品平臺、四探針及接線板等組成。由于其整個結構及旋動方式都在原SB120/1的基礎上作了很大的改進，故在高校的物理實驗及科學研究總為導體/半導體/金屬薄膜材料的電阻和電阻率的測試、研究提供了較大的方便。