XPN-300系列偏光顯微鏡

一、用途：
　　XPN-300系列偏光顯微鏡熔點儀、偏光溫控儀是地質、礦產、冶金等部門和相關高等院校zui常用的專業(yè)實驗儀器。偏光顯微鏡可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，觀察物體在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物體的三態(tài)轉化。偏光顯微鏡配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件還可用于化工化纖、半導體工業(yè)以及藥品檢驗等領域。偏光熔點測定儀采用微電腦檢測，有自動P、I、D調節(jié)，及模糊手動調節(jié)功能，偏光熔點測定儀通過 LED顯示溫度值及設定溫度值。

二、系統(tǒng)簡介 　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
　　偏光顯微鏡熔點儀系統(tǒng)是將精密的光學顯微鏡技術、*的光電轉換技術、*的計算機圖像處理技術*地結合在一起而開發(fā)研制成功的一項高科技產品。可以顯示屏上很方便地觀察實時動態(tài)圖像，并能將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。
　

三、技術參數(shù)：　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
　  1．目鏡

2．物鏡

3.放大倍數(shù)：40X 100X 400X600X
　　　系統(tǒng)放大倍數(shù)：40X-2600X
　　4.聚光鏡數(shù)值孔徑：NA1.2/0.22搖出式消色差聚光鏡，中心可調
　　5.起偏鏡：振動方向360°可調，帶鎖緊裝置，可移動光路
　　6.檢偏鏡：可移出光路，旋轉范圍90°，內置勃氏鏡，中心可調
　　7.補償器：λ片（Ф18mm，一級紅，光程差551nm）
　　　　　　　λ/4片（Ф18mm, 光程差147.3nm）
　　　　　　　石英楔子（12x28mm，Ⅰ-Ⅳ級）
　　8.調焦系統(tǒng)：帶限位和調節(jié)松緊裝置的同軸粗微動，微動格值 0.002mm
　　9.電光源：6V/20W 鹵素燈（亮度可調）
　 10.防霉：*的防霉系統(tǒng)

四、偏光熔點測定儀
　　1.偏光熔點測定儀
　　　在 20X 物鏡下工作溫度可達到zui高300 ℃ 、溫度運行程序全自動控制；溫度程序段由用戶自行設定，30段溫度編程，循環(huán)操作，能準確反映設定溫度、爐芯溫度、樣品的實際溫度。每段設定起始溫度，及在該段內可維持時間，升溫速率可調、精度±0.3 ℃、記憶點讀數(shù)。
　　2.顯微加熱平臺
　　　可以隨載物臺移動、工作區(qū)加熱面積大、透光區(qū)域可調、工作區(qū)溫度梯度低于± 0.1起始溫度室溫工作區(qū)加熱使用面積至少1X1cm工作區(qū)溫度梯度不超過 ±0.1oC透光區(qū)域 2mm以上，可調顯示溫度與實際溫度誤差不超過± 0.2熱臺可以隨載物臺移動
　　　熔點測定 溫度超過100度時，25X的物鏡工作距離太近，容易損壞鏡頭，請選用長工作距離的 20X、40X 物鏡

　五、系統(tǒng)組成
　　　電腦型高精度偏光顯微鏡（XPN-300E）：1、顯微鏡     2、熔點儀     3、攝像器（CCD）
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　4、A/D（圖像采集）                5、計算機
　　　數(shù)碼相機型高精度偏光顯微鏡（XPN-300Z）：1、顯微鏡     2、熔點儀    3、數(shù)碼相機

　六、選購件
　　　1、高像素成像系統(tǒng)      2.偏光顯微鏡分析軟件        3.物鏡：20X