一、用途

    XPV-203E/XPV-203Z 透反射偏光顯微鏡及熔點測定系統是地質、礦產、冶金、石油化工、化纖、半導體工業以及藥品檢驗等部門和相關高等院校高分子等專業zui常用的專業實驗儀器。透反射偏光顯微鏡可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察及顯微攝影，觀察物體在加熱狀態下的形變、色變及物體的三態轉化。透反射偏光顯微鏡采用微電腦檢測，有自動P、I、D調節及模糊手動調節功能，通過LED顯示溫度值及設定溫度值，儀表顯示準確、清晰、穩定，對溫度控制可設定程序，設有“上、下”限自動報警裝置，并可隨時檢查設定的溫度數據，是新一代熔點測溫、控溫裝置。顯微鏡配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件。本儀器具有可擴展性，可以接計算機和數碼相機，對圖片進行編輯、保存和打印。是一組具有較完備功能的新型產品。

二、系統簡介

    透反射偏光顯微鏡系統是將精密的光學顯微鏡技術、*的光電轉換技術、*的計算機圖像處理技術*地結合在一起而開發研制成功的一項高科技產品。透反射偏光顯微鏡可以在顯示屏上很方便地觀察實時動態圖像，并能將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。

三、技術參數：

1.目鏡： 類  別 放大倍數 視場（mm）

網格目鏡10X φ18

十字目鏡10X φ18

分劃目鏡10X φ18

2.物鏡： 類  別 放大倍數 數值孔徑（NA） 工作距離（mm） 蓋玻片厚度（mm）

物 鏡4X 0.107.80-

10X 0.254.70-

25X 0.401.750.17

40X 0.650.720.17

63X 0.850.180.17

3.放大倍數：40X-630X   系統放大倍數：40X-2600X

4.聚光鏡數值孔徑：NA1.2/0.22 搖出式消色差聚光鏡，中心可調。

5.起偏鏡：振動方向360°可調，帶鎖緊裝置，可移動光路

6.檢偏鏡:可移出光路，旋轉范圍90°內置勃氏鏡，中心、焦距可調

7.補償器：λ片（φ18mm，一級紅，光程差551nm）    λ/4片（φ18mm, 光程差147.3nm）

          石英楔子（12x28mm，Ⅰ-Ⅳ級）

8.調焦系統：帶限位和調節松緊裝置的同軸粗微調，格值為0.002mm

9.電光源：6V/20W鹵素燈（亮度可調）

四、反射照明、同軸照明器（又名垂直照明器）

    同軸照明器又名垂直照明器，它是顯微鏡垂直照明系統，系統系數1倍，可適配與各型號的普通（160mm機械筒長，斜筒式）顯微鏡 。可作為反射光照明系統下觀察不透明物體表面細微結構。

    垂直照明裝置配置與顯微鏡上不僅能進行一般金相分析、微粒分析測試還可以對非金屬不透明物體進行分析、觀察而且配有偏光系統，作偏光觀察。

五、系統組成

  透反射偏光顯微鏡（XPV-203E）：1、偏光顯微鏡  2、同軸照明器  3.攝像器（CCD）    4.A/D（圖像采集）   5、計算機

  透反射偏光顯微鏡（XPV-203Z）：1、偏光顯微鏡  2、同軸照明器  3、數碼相機系統

六、選購件    

     1、高像素成像系統          2.偏光顯微鏡分析軟件