概述：

X射線發生系統為X射線聚焦光學系統（聚焦導管）與X射線源相結合，并且可以照射出實際照射直徑

為 0.1mmφ以下高強度的X射線束。為此，可以對以往X射線熒光鍍層厚度測量儀由于照射強度不足而

無法得到理想精度的導線架、插接頭、柔性線路板等微小部件及薄膜進行測量。同時搭載高計數率、

高分辨率的半導體檢測器，在測量鍍層厚度的同時，也能對RoHS、ELV、中國版RoHS等法規所管制的

有害物質進行分析測量。

主要特點：

1.X射線發生系統采用了聚光導管 由于采用了X射線聚光導管方式，可得到以往十倍以上的X射線強度，

從而可以提高微小樣品的膜厚測量及有害物質測量的精度。

2.無需液氮的半導體檢測器 在進行薄膜測量與有害物質的濃度測量時，高分辨率的檢測器是*的。

SFT9500的檢測器不但可以達到高分辨率，而且可以實現高計數率。同時，由于使用了電子冷卻方式，

所以無需液氮。

3.能譜匹配軟件（選配件） 可瞬間識別未知樣品與事先存檔的X射線能譜庫中哪一個樣品較為接近的軟件。

對識別材料十分有效。

4.塊體檢量線軟件（適用于電鍍液分析） （選配件） 可簡單地測量出電鍍液中主要金屬的濃度。

5.繪圖軟件（選配件） 將元素面分析的結果進行等高線和色彩使用等視覺處理的軟件。

6.電鍍液容器（選配件）

7.各種標準物質（選配件）

產品規格：