CXDL-02-A介質損耗測試儀主要用于絕緣材料介質損耗tgδ和介電常數(shù)εr的測試。

本產(chǎn)品是依據(jù)版本國家標準GB/T 1409-2006《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數(shù)的試驗方法》（等效采用IEC 60250）和GB/T 5654-85《液體絕緣材料工頻相對介電常數(shù)、介質損耗因數(shù)和體積電阻率的測量》設計制造的，并符合EN14598-2：2005增強熱固性模塑料SMC和DMC模塑料規(guī)范 第2部分：試驗方法的要求。

CXDL-02-A介質損耗測試儀主要特點：

一體化：內置高壓電橋、變頻電源、升壓變壓器和標準電容等相關部件，可獨立、自動完成1KV下的介質損耗和電容測量。

抗干擾：基于傅立葉算法的精密頻譜技術，具有強大的抗*力。

數(shù)據(jù)處理：采用工業(yè)級32位DSP處理平臺，內建大容量存貯器、熱敏打印機。

安全保護：具有過流、過壓、擊穿、容升、接地等完整的保護措施。

技術指標：

Cx: ±（讀數(shù)×1%+1pF）分辨率 0.1pF 范圍 3pF~10000pF

tgδ: ±（讀數(shù)×1%+2×10-5） 分辨率1×10-5。

試驗電流測試范圍：10μA~20mA

輸出電壓范圍：10V~1000V   精度： ±（1.5%×讀數(shù)+10V）

輸出zui大電流：20mA

試驗頻率： 30-1000Hz   調節(jié)步距： ±0.1Hz

輸入電源： 180V~270VAC，50Hz/60Hz±1%