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美國GGB探針探針

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公司名稱 深圳市森美協爾科技有限公司
品牌
型號 美國GGB探針
產地
廠商性質 生產廠家
更新時間 2017/10/12 11:12:03
訪問次數 3176

產品標簽

美國GGB探針

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公司介紹 主營產品

SEMISHARE 森美協爾有限公司，是集自主研發/設計、生產、銷售為一體的探針測試集成系統和激光修復設備及解決方案供應商，致力于為用戶提供基于探針系統標準的精密測量測試方案，主營業務包括半導體行業、光電、集成電路及封裝測試中復雜器件的精密檢測系統及激光修復系統的設計制造，有超過10年的行業經驗和技術積累；目前設有半導體營銷事業部和半導體設備制造工廠，在多個細分市場建立了穩定的客戶關系和供應體系。
經過不斷的前沿技術創新，SEMISHARE可提供更完善的產品解決方案，幫助改善芯片產業的產品品質及可靠性，縮短研發時間和器件制造工藝成本。

展開

半導體檢測設備：探針臺，I-V/C-V參數測試儀，網絡分析儀，激光系統，金相顯微鏡，EMMI微光顯微鏡，X射線，C-SAM超聲波探測，電子顯微鏡

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鎢探針

一．T-4 系列軟針

T-4-10型探針的鎢材質針尖在

掃描電鏡下的成像

T-4 系列軟針較多的應用于點測集成電路的線路，電極，或者FIB（聚焦離子束）制作的mini電極。

T-4系列軟針的結構采用不同直徑鎢材質針須焊接于鍍錫的銅材質針桿上。

其中T-4-10和T-4-22兩款是客戶反饋比較有優勢的型號，因為其針須直徑較細，具有良好的彎曲彈性，能夠*的減少對芯片電極的損害，在部分震動環境下面也能夠保證和電極的良好接觸。

T-4 軟針不建議在敏感節點使用，因為會產生電容負載的問題，在此環境下，建議使用高阻抗Picoprobes系列。

圖1

T-4 系列
型號	鎢材質針須直徑	針尖直徑	針須長度
T-4-5	5 微米	<0.2微米	0.13" （3.3mm）
T-4-10	10微米	<0.2微米	0.13" （3.3mm）
T-4-22	22微米	<2.0微米	0.20" （5.1mm）
T-4-35	35微米	<4.0微米	0.20" （5.1mm）
T-4-60	60微米	<6.0微米	0.20" （5.1mm）
T-4-125	125微米	<10.0微米	0.20" （5.1mm）
圖2

T-4 系列尺寸圖

圖3

二．ST 系列硬針

ST 系列硬針是0.020 inch （0.51mm）直徑鎢材質針桿經過精密電化學加工成為不同的針尖直徑，長度為1.5inch（38.1mm）的。這種應用與絕大多數的芯片電極點測和線路點測。

ST系列硬針可以用于與刮擦或者刺穿芯片表面鈍化層。該可以選擇表面鍍鎳，如果選擇鍍鎳則型號后面增加“NP”。

ST系列硬針
型號	針桿直徑	針尖直徑
ST-20-0.5	0.020" （0.51mm）	<1 微米
ST-20-1.0	0.020" （0.51mm）	<2.0微米
ST-20-2.0	0.020" （0.51mm）	<4.0微米
ST-20-5.0	0.020" （0.51mm）	<10.0微米
ST-20-10.0	0.020" （0.51mm）	<20.0微米
圖 4