CH-15JE 測量顯微鏡
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 北京東立環宇電子科技有限公司
- 品牌
- 型號 CH-15JE
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2016/7/4 8:36:02
- 訪問次數 675
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一、測量顯微鏡CH-15JE特點
測量顯微鏡是光學計量儀器之一種，它結構簡單，操作方便，使用范圍極廣，主要用途如下：直角坐標中測定長度，例如測定孔距，幾面距離、刻線距離、刻線寬度、鍵槽寬度狹縫寬度、通孔外圓直徑等等：轉動度盤測定角度，例如對刻度盤、樣板、量規、鉆孔、模板、*磨制及幾何形狀復雜的零件進行角度測量；作為普通顯微鏡觀察，以比較法檢查工作表面粗糙度，鑒定冶金工業的礦石標本，檢定印刷照相制版，檢驗紡織纖維等等。
二、CH-15JE主要技術參數
目鏡：10X
物鏡：2.5X，10X
工作距離：58.84mm、7.81mm
視場直徑：5.6mm、1.4 mm
總放大倍數：25X、100X
測量工作臺：直徑120mm， XY軸移動范圍50mm×13mm，轉動范圍0度-360度，刻度盤之分度值1度，刻度盤游標讀數值： 6’
測量臺與物鏡間之zui大距離：80mm
數顯測微器分度值：0.01mm，
測量精度：儀器示值誤差±（5+L/15）um（儀器示值誤差包括測量誤差與儀器系統誤差）
注：測量地點溫度變化（20±3）℃； L—被測件長度（mm）
二、CH-15JE主要技術參數
目鏡：10X
物鏡：2.5X，10X
工作距離：58.84mm、7.81mm
視場直徑：5.6mm、1.4 mm
總放大倍數：25X、100X
測量工作臺：直徑120mm， XY軸移動范圍50mm×13mm，轉動范圍0度-360度，刻度盤之分度值1度，刻度盤游標讀數值： 6’
測量臺與物鏡間之zui大距離：80mm
數顯測微器分度值：0.01mm，
測量精度：儀器示值誤差±（5+L/15）um（儀器示值誤差包括測量誤差與儀器系統誤差）
注：測量地點溫度變化（20±3）℃； L—被測件長度（mm）
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