SY.29-WDI 硅片缺陷觀測儀/太陽能研究用數碼金相顯微鏡(不含偏光+單色+微分)
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 北京卓川電子科技有限公司
- 品牌
- 型號 SY.29-WDI
- 產地 北京卓川電子科技有限公司
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2016/2/4 11:27:19
- 訪問次數 1026
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硅片缺陷觀測儀/太陽能研究用數碼金相顯微鏡(不含偏光+單色+微分) 概述:
硅片缺陷觀測儀/太陽能研究用數碼金相顯微鏡(不含偏光+單色+微分) 于對硅片的缺陷進行觀察,效果非常明顯,包括肉眼無法觀測的位錯、層錯、劃痕、崩邊等。
實時對圖像進行分析、測量和統計,提高傳統光學儀器的使用內涵。配合投影儀和計算機等顯示、存儲設備,能更好的觀測和保存研究結果;
特點:
■ 適用于對硅片的缺陷觀察效果,非常明顯,包括肉眼無法觀測的位錯、層錯、劃痕、崩邊等;
■ 使硅片缺陷觀察工作簡單化,準確化,同時極大程度降低此項工作強度;
■ 實時對圖像進行分析、測量和統計,提高傳統光學儀器的使用內涵。配合投影儀和計算機等顯示、存儲設備,能更好的觀測和保存研究結果;
■ 使用 1/2"CMOS 感光芯片,具有體積小,技術較好,像素較高, 成像清晰 、線條細膩、色彩豐富;
■ 傳輸接口為 USB2.0 高速接口, 軟件模塊化設計 ;
■ 有效分辨率為 200 萬像素;
■ 所配軟件能兼容 windows 2000 和 windows XP 操作系統。