JW-BK112型 石墨比表面儀功能
比表面測(cè)定：    BET（單點(diǎn)、多點(diǎn)）比表面，Langmuir比表面，外表面測(cè)定；
BJH孔徑分布測(cè)定：    總孔體積、平均孔徑、孔容/孔徑的微分與積分分布；
微孔常規(guī)分析：    微孔總孔體積、總內(nèi)表面積（t-圖、D&R、MP等）
真密度測(cè)試

JW-BK112型 石墨比表面儀
精微高博是的廠商,精微高博一并榮獲中國(guó)*測(cè)試證書(shū),*及CE認(rèn)證并且還有*的產(chǎn)品是通過(guò)**
精微高博經(jīng)*技術(shù)鑒定，控制精度和測(cè)試精度達(dá)到*水平，已在國(guó)內(nèi)普遍應(yīng)用。

JW-BK112型 儀技術(shù)參數(shù)
原理方法：  低溫氮吸附，靜態(tài)容量法
吸附氣體：  高純氮?dú)猓部捎秒础⒑ぁ⒍趸嫉绕渌麣怏w
極限真空：  4 - 6.7×10-2Pa （ 3- 5×10-4   Torr）
氮?dú)夥謮海?nbsp; 4×10-5 – 0.995
控制精度：  測(cè)試壓力點(diǎn)zui小控制間隔可小于0.1 KPa （0.75  Torr） ,可測(cè)上千個(gè)點(diǎn)。
測(cè)試范圍：  比表面  ≥ 0.01 M2/g，無(wú)規(guī)定上限
                         孔徑  0.35 - 400 nm
測(cè)試精度：  ≤±2%
測(cè)試效率：  多點(diǎn)BET比表面每樣平均20min
                         孔徑分析時(shí)間隨不同材質(zhì)各異
預(yù) 處 理：  兩樣品同位處理，溫度50-400℃，±1℃
軟件：  BET（單點(diǎn)、多點(diǎn)）、Langmuir、BJH、t-Plot、MP、D-R等

真密度測(cè)試：重復(fù)性精度0.02%

JW-BK112型 儀特色
    ◎  比表面儀具有業(yè)內(nèi)*通過(guò)*技術(shù)鑒定產(chǎn)品，控制和測(cè)試精度達(dá)到*水平；
    ◎  比表面儀具有*的抽氣與充氣速度精密控制技術(shù)，保證了測(cè)試的準(zhǔn)確性和安全性；
    ◎  比表面儀具有*的多途徑液氮面控制與校正技術(shù)，連續(xù)測(cè)試10小時(shí)也不需添加液氮；
    ◎  比表面儀具有有完善的標(biāo)準(zhǔn)等溫線數(shù)據(jù)庫(kù)和規(guī)范的分析方法，微孔常規(guī)測(cè)試技術(shù)國(guó)內(nèi)；
    ◎  比表面儀具有軟件功能齊全、界面友好、操作方便、實(shí)時(shí)顯示樣品吸、脫附壓力變化及平衡過(guò)程；
    ◎  比表面儀具有實(shí)驗(yàn)全程自動(dòng)化、智能化控制，長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行*可以無(wú)人職守；