梅特勒十萬分之一分析天平XPR105DR/AC
性能，輕松合規.
出色的結果和智能的質量保證。量程為41/120g，可讀性為0.01/0.1mg； 集成方法； 結果記事本； 懸掛型秤盤； 易于清潔； ErgoClip可實現一步加樣； LabX和自動分配選項
一次即準的結果
集成的StatusLight™、LevelControl和GWP Approved協同作用，確保各項條件處于更佳狀態，獲得正確的稱量結果。
StaticDetect 靜電檢測
由于具備StaticDetect專業功能，XPR微量天平和分析天平可檢測樣品和容器的靜電荷。
始終可符合審計
將XPR分析天平連接至LabX軟件，為合規性和數據完整性提供全面支持。
規格 - 梅特勒十萬分之一分析天平XPR105DR/AC
最大秤量 | 120 g/41 g |
可讀性 | 0.1 mg |
重復性（典型） | 0.007 mg |
最小稱量值（符合USP，允差為0.1%，典型） | 14 mg |
穩定時間 | 1.5 s |
校正 | 內部（全自動/FACT） |
接口 | RS232（集成式/選件） |
用戶管理 | 密碼保護 |
認證 | 是 |
秤盤尺寸 (寬x深) | 78 mm x 73 mm |
線性誤差（典型）± | 0.15 mg |
外形尺寸 (高x寬x深) | 292 mm x 195 mm x 485 mm |
文檔選項 | 基本電子文檔 |
合規性選項 | 密碼保護 |
認證天平 | 是 |
自動靜電檢測 | 是 |
天平系列 | XPR |
天平型號 | 分析天平 |
價格 | $$$ |
系列 | 超越系列 |
等級 | |
特點 | 密碼保護 |
符合21 CFR第11部分的稱量規定 | 是 |
自動化選件 | 自動化工作流程 |
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