在線(xiàn)X射線(xiàn)熒光膜厚測(cè)量?jī)x

廠(chǎng)家：k-Space Associates, Inc.

型號(hào)：kSA XRF

技術(shù)介紹

對(duì)于膜層厚度較薄的金屬薄膜和介電薄膜，光學(xué)方法測(cè)量其厚度顯得不是很可靠。kSA XRF 在線(xiàn)X射線(xiàn)熒光膜厚測(cè)試設(shè)備的推出主要就是為了解決該問(wèn)題，它可以在線(xiàn)測(cè)量許多不同材料基底（例如：玻璃和太陽(yáng)能電池組件）上的薄膜厚度。

設(shè)備詳情

• 配備保護(hù)性定制框架外殼，放置X射線(xiàn)源和探測(cè)器。

• 該設(shè)備橋接了輸送線(xiàn)，以便于設(shè)備安裝和工廠(chǎng)用戶(hù)對(duì)系統(tǒng)的訪(fǎng)問(wèn)。

• 當(dāng) X 射線(xiàn)源正在使用時(shí)，會(huì)有警示燈閃爍提示。

• 配備面板的前/后邊緣光電檢測(cè)器，用于觸發(fā)設(shè)備自動(dòng)啟停。

• 柜式控制器提供數(shù)據(jù)處理及存儲(chǔ)功能。

• 配備小型燈塔用于指示檢測(cè)情況。

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

• 某些較薄的介電薄膜，光學(xué)方法難以測(cè)量其厚度，如低于100nm厚度薄膜；在這種情況下，kSA XRF 在線(xiàn)X射線(xiàn)熒光膜厚測(cè)試設(shè)備可以很好地測(cè)量。

• 可在多種基板上測(cè)量金屬薄膜厚度。

• 實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)采集，檢測(cè)薄膜厚度缺陷并進(jìn)行在線(xiàn)反饋。

• 軟件功能可定制，用戶(hù)可以依據(jù)特定要求設(shè)置。

• 檢測(cè)過(guò)程中可對(duì)質(zhì)量控制進(jìn)行驗(yàn)證，以確保涂層厚度在公差范圍內(nèi)。

• 工廠(chǎng)集成功能：使工廠(chǎng)用戶(hù)能夠?qū)⒂?jì)量整合到現(xiàn)有系統(tǒng)（工廠(chǎng)警報(bào)、PLC、電子郵件警報(bào)等）中。

• 操作便捷，幾乎不需要額外設(shè)置，只需操作員定期進(jìn)行設(shè)備校準(zhǔn)。

工作原理

• 該系統(tǒng)由一個(gè)帶有高壓發(fā)生器的 X 射線(xiàn)管和一個(gè) X 射線(xiàn)探測(cè)器系統(tǒng)組成。

• 其 X 射線(xiàn)檢測(cè)系統(tǒng)組合了固態(tài)探測(cè)器、放大器、脈沖高度分析儀和多通道分析儀。

• 光譜儀能量校準(zhǔn)后，系統(tǒng)自動(dòng)識(shí)別 X 射線(xiàn)光譜峰值，并收集峰值強(qiáng)度以進(jìn)行進(jìn)一步處理。

• 該工具可根據(jù)客戶(hù)的薄膜配方和測(cè)量需求測(cè)量對(duì)應(yīng)的原子種類(lèi)。

軟件功能

• 使用專(zhuān)有的 k-Space 軟件測(cè)量，分析和存儲(chǔ)數(shù)據(jù)。

• 可與現(xiàn)有質(zhì)量控制系統(tǒng)對(duì)接通訊。

• 利用光電檢測(cè)器的觸發(fā)器啟動(dòng)和停止數(shù)據(jù)采集。

• 專(zhuān)為典型的玻璃和太陽(yáng)能電池板輸送速度而設(shè)計(jì)。

• 全自動(dòng)化，能夠與工廠(chǎng)自動(dòng)化通信對(duì)接。

• 報(bào)警信號(hào)可便捷的自定義配置。

• 單個(gè)檢測(cè)頭可以放置在面板寬度上的任何位置，并且可選配使用多個(gè)檢測(cè)頭。

• 厚度測(cè)量范圍為 0~500 nm±1 nm，靈敏度和測(cè)量不確定度取決于被測(cè)元素。

軟件截圖