德國(guó)菲希爾 XRF能量色散X射線(xiàn)熒光分析儀

您的需求是我們的動(dòng)力–Fischer XRF測(cè)量技術(shù)的好處一目了然

我們有您需要的：在X射線(xiàn)熒光分析（XRF分析）領(lǐng)域擁有多年的綜合專(zhuān)業(yè)知識(shí)！您將獲得最佳解決方案，尤其是針對(duì)您的測(cè)量任務(wù)–我們承諾！

FISCHER的XRF測(cè)量原理–其工作原理如下：

XRF能量色散X射線(xiàn)熒光分析儀 快速、簡(jiǎn)單、無(wú)損-這是采用Fischer XRF測(cè)量技術(shù)的XRF分析代表的意義！X射線(xiàn)束使測(cè)量樣品中的原子電離。探測(cè)器檢測(cè)發(fā)生的熒光輻射，內(nèi)部開(kāi)發(fā)的軟件處理信號(hào)。

設(shè)置FISCHER XRF測(cè)量?jī)x器–這就是獲得最佳測(cè)量結(jié)果的方式：

必須注意細(xì)節(jié)：衡量成功與否與每個(gè)組成部分都息息相關(guān)！

X射線(xiàn)管和陽(yáng)極材料：
小零件，有大影響！XRF設(shè)備的“心臟”，即X射線(xiàn)發(fā)生器，由一個(gè)帶有鎢、銠、鉬或鉻陽(yáng)極的標(biāo)準(zhǔn)或微聚焦射線(xiàn)管組成。這些部件決定了達(dá)到哪種測(cè)量精度和哪種能譜。

濾波器：
只有必要的東西才能通過(guò)：X射線(xiàn)束通過(guò)濾波器，以降低相關(guān)能量范圍內(nèi)的背景噪聲，從而對(duì)來(lái)自?xún)H以低濃度存在的材料的信號(hào)實(shí)現(xiàn)更高的靈敏度。

孔徑和X射線(xiàn)光學(xué)元件：
菲舍爾的聚焦！作為全球僅有的兩家多毛細(xì)管光學(xué)器件的制造商之一，我們能夠?qū)⒋蟛糠殖跫?jí)輻射集中在一個(gè)微小的測(cè)量點(diǎn)上。

探測(cè)器：

只有在Fischer，您可以選擇3種不同的探測(cè)器類(lèi)型，以實(shí)現(xiàn)測(cè)量任務(wù)的最佳解決方案：比例計(jì)數(shù)管、硅PIN二極管和硅漂移探測(cè)器。

X射線(xiàn)熒光分析的基礎(chǔ)和最重要的儀器性能在過(guò)去，

X射線(xiàn)熒光分析（XRF）主要用于地質(zhì)學(xué)。如今，它已成為工業(yè)和實(shí)驗(yàn)室的關(guān)鍵技術(shù)。這種方法非常通用：它可以檢測(cè)從鈉到鈾的所有相關(guān)化學(xué)元素

XRF通常用于材料分析，即確定樣品中給定物質(zhì)的含量，如測(cè)量珠寶中的黃金含量或根據(jù)《有害物質(zhì)限制》（RoHS）指令檢測(cè)日常物品中的有害物質(zhì)。此外，可以使用XRF測(cè)量鍍層的厚度：它快速、環(huán)保且無(wú)損。這就是測(cè)量是如何進(jìn)行的當(dāng)X射線(xiàn)設(shè)備開(kāi)始測(cè)量時(shí)，X射線(xiàn)管會(huì)發(fā)出高能輻射，這也被稱(chēng)為‘初級(jí)’輻射。當(dāng)這些X射線(xiàn)擊中樣品中的一個(gè)原子時(shí)，它們會(huì)增加能量–即它們“激發(fā)”原子 - 使原子向其原子核附近發(fā)射電子，這個(gè)過(guò)程被稱(chēng)為“電離”。由于這種狀態(tài)是不穩(wěn)定的，一個(gè)來(lái)自更高電子層的電子移動(dòng)來(lái)填充空隙，從而發(fā)射出“熒光”輻射。

這種二次輻射的能量水平類(lèi)似指紋一樣：它是每個(gè)元素的特征。探測(cè)器接收熒光并將信號(hào)數(shù)字化。在信號(hào)經(jīng)過(guò)處理后，設(shè)備產(chǎn)生一個(gè)光譜：檢測(cè)到的光子的能級(jí)在x軸上繪制，其頻率（計(jì)數(shù)率）在y軸上繪制。樣品中的元素可以從光譜中波峰的位置（x軸方向）來(lái)識(shí)別。這些峰的水平（y軸方向）提供了有關(guān)元素濃度的信息。