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《表面化學分析 原子力顯微術 二硫化鉬片層材料厚度測量方法》意見征求
2020年01月17日 13:12:20
來源：化工儀器網 點擊量：6499
為了應對我國科研和生產部門的需要，規范我國此類檢測工作，指導日常的測試工作，國家納米科學中心、納米技術及應用國家工程研究中心、北京粉體技術協會等單位共同起草了《表面化學分析 原子力顯微術 二硫化鉬片層材料厚度測量方法》。
【化工儀器網 政策標準】納米材料可以分為納米顆粒、納米纖維和納米片，針對納米顆粒的尺寸測量，我們已經建立了詳細的基于原子力顯微術的測量方法，用于規定通過原子力顯微鏡測量納米顆粒高度來表征納米顆粒尺寸的方法，而針對二維納米材料的高度測量方法，目前和國內都沒有相關標準。
為了應對我國科研和生產部門的需要，規范我國此類檢測工作，指導日常的測試工作，國家納米科學中心、納米技術及應用國家工程研究中心、北京粉體技術協會等單位共同起草了《表面化學分析 原子力顯微術 二硫化鉬片層材料厚度測量方法》。
據了解，該標準制定是由中國科學院提出，全國微束分析標準化技術委員會歸口，按照GB/T 1.1-2009給出的規則起草的。經過不斷的試驗與研究，標準題目也從初的《利用原子力顯微鏡測量納米顆粒粒徑大小的標準方法》演變成為《表面化學分析 原子力顯微術 二硫化鉬片層材料厚度測量方法》，并將標準范圍定為二維納米材料中常用的二硫化鉬片層材料，附錄增加了樣品制備過程及測量數據不確定度分析。在標準起草工作組進行了大量的實驗驗證工作后，于近日面向社會發布了標準的征求意見稿。
閱讀標準后可知，《表面化學分析 原子力顯微術 二硫化鉬片層材料厚度測量方法》的內容包括有范圍、規范性引用文件、術語和定義、方法概述、儀器和輔助設備、試劑與實驗材料、樣品制備、測量步驟及結果、不確定度評定、測量報告以及資料性附錄，規定了利用原子力顯微術測量二硫化鉬片層材料厚度的測量方法。
通過標準可知，試驗所需的儀器有原子力顯微鏡、等離子清洗機、超聲清洗儀、移液槍、壓縮氣體等，標準不僅對樣品制備的襯底處理、二硫化鉬片層材料的轉移以及待測樣品的存放步驟進行了詳細介紹，還對測量步驟的設備校準、環境條件、開機準備、探針的選擇、成像模式的選擇、掃描范圍的設定、圖像的獲取與處理等步驟進行了論述。
此外，標準在起草過程中還引用了GB/T 27760《利用Si(111)晶面原子臺階對原子力顯微鏡亞納米高度測量進行校準的方法》、GB/T 33714《納米技術 納米顆粒尺寸測量 原子力顯微術》等標準文件。小編也相信隨著本標準的建立和實施，將有助于增進我國原子力顯微鏡技術在納米材料測量領域的發展，引導和規范我國原子力顯微鏡分析技術。
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