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FISCHERSCOPE X-RAY XDLMPCB200/210，菲希爾無損測厚儀可用于檢測金鎳厚度，元素分析，涂層鍍層檢測，材料分析等。菲希爾X-RAY系列...

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM PCB 220，FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB 220 是專為測量印制電路板上鍍層厚度及...

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM231/232/237,無論是高精度鍍層厚度測量或是精確材料成分分析，FISCHER眾多系列的X射線熒光光譜儀可以...

Fischerscope X-ray XDL 220，XDLM測量系統經常用來測量接插件和觸點的各種底材上的Au/Ni，Au/PdNi/Ni，Ag/Ni或Sn/...

Fischerscope X-rayXDL210，FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。由于采...

FISCHERSCOPE GOLDSCOPE SD510 / 515，GOLDSCOPE SD 520 和 GOLDSCOPE SD 550 配備了數字脈沖處理...

Fischerscope X-RAY XAN250/252，高性能X射線熒光測量儀，配有非常先進的硅漂移探測器(SDD)，可快速、無損地進行RoHS檢測、材料分...

FISCHERSCOPE X-RAY XULM240PCB，應用電鍍層，例如鐵上的鋅或鐵上的鋅鎳，用于大批量生產的零件（螺母和螺栓）的腐蝕防護電鍍液中金屬含量的...

菲希爾鍍層測厚儀Fischer X射線,FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款入門級能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，通常用于對珠寶...

菲希爾鍍層測厚儀X熒光射線儀器，由于運用了各種測量技術，因此能夠為任何測量任務提供合適的解決方案。臺式儀器可以通過軟件和硬件接口輕松集成到生產和質量管理系統中。

菲希爾X熒光射線鍍層測厚儀，取決于測量距離和孔徑大小，實際的量點大小與視頻。窗口中顯示的一致，小測量點大小：約為φ0.51mm

FISCHER X熒光射線測厚儀 菲希爾，手持式、臺式、在線： XAN500型X射線熒光儀器是菲希爾到目前為止功能最多樣化的設備。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210/220/230/240菲希爾X射線測厚儀是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。

XDAL237菲希爾X射線測厚儀，在設計上，FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型儀器和XDLM型儀器相對應。

FISCHERSCOPE X-RAY XAN，根據DIN ISO 3497和ASTM B 568標準進行金屬和貴金屬分析，鍍層厚度測量和RoHS篩查的通用X射線...

FISCHERSCOPE X-RAY XAN菲希爾，根據DIN ISO 3497和ASTM B 568標準進行金屬和貴金屬分析，鍍層厚度測量和RoHS篩查的通用...

菲希爾X熒光射線測厚儀Fischer，菲希爾X射線測厚儀比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。

Fischerscope XAN215鍍層測厚儀，FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款頗具性價比的入門級能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層...

菲希爾代理X熒光射線測厚儀，配備了可編程XY工作臺的版本的XDL系列儀器可用于自動化系列測試。它可以很方便地掃描表面，這樣就可以檢查其均勻性。

X射線測厚儀，XUL儀器適合測量不同形狀的細小工件，如螺絲，螺釘或螺帽，連接器觸點及其它電子元器件。